ソリューション・改善事例

顕微鏡・マイクロスコープによる観察、検査

改善事例1

太陽電池パネル

いま、顕微鏡で何番目の素子を見ているか分からなくなった・・・

ウェハや電子部品など整然と並んだ素子を顕微鏡で検査していると、不良箇所を見つけてもそれが何番目の素子か分からなくなることがありました。

改善のご提案

マップソフト TeleMatri はマップ上でステージの位置を管理できるので、現在検査している場所を間違えることがなくなります。

不良箇所にはマップ上にカラーマーキングしてあとでレポート出力すれば、結果を間違えることなく作業効率も改善します。

改善事例2

画像結合

ワーク全体の顕微鏡画像を自動で取得したい。

ワーク全体の画像を保存する場合「画像保存→隣の視野エリアに移動→画像保存→・・・」と何度も繰り返し、手間と時間がかかっていました。

改善のご提案

キャプチャートリガーの信号によって画像保存するCCDカメラとXYステージを連動させることで、ワーク全体の画像を自動取得できます。

画像取得のためのI/O制御プログラムも簡単に作れます。手間のかかる作業から解放され、生産性を改善します。(CCDカメラには画像保存機能が必要となります。)

改善事例3

門形XYステージ

マイクロスコープで大きなワークを観察したい。

マイクロスコープに付属している標準ステージでは小さいため、大型のワークを観察ができない。観察するためにワークを小さく切断したり、準備に無駄な時間をかけていた。

改善のご提案

門形XYステージ(移動量200mm)をご用意しました。X軸にマイクロスコープを固定し、Y軸にワークをセットすればワーク全体を観察できます。

ステージの移動範囲はご相談ください。

改善事例4

マイクロスコープ

現在使用しているマイクロスコープを使って、外観検査システムを作りたい。

現在マイクロスコープを使って目視による外観検査をしているが、作業者の作業環境、検査効率を改善するためのシステムを構築したい。

改善のご提案

マップソフト TeleMatri はマップ上でステージの位置、良否判定結果の入力を管理できるので、検査効率を改善できます。

コントローラー(ソフトウェア含む)のみを提供することもできるので、他社製または自作XYステージと組み合わせることも可能です。システム設計の自由度が上がり、ソフト開発の手間を省けます。

画像処理装置による外観検査

改善事例

外観検査装置・カメラ

パレットに並んだ部品を、画像処理装置を使って良否判定の検査をしたい。

画像処理装置をシーケンサーでプログラムを組んで検査を行っていた。多品種少量生産のため頻繁にプログラムを変更しなければならない。

改善のご提案

画像処理装置とXYステージを連動させて、不良箇所にはマップ上にカラーマーキングします。

画像処理装置の処理開始出力、良否判定入力のI/O制御プログラムも簡単に作れます。

検査対象が変わっても、マップ形状を変更するだけで、すぐに対応できます。

画像処理装置との連動 画像処理装置との連動

各種マーカーによるマーキング

改善事例1

マーキング装置

パレットに並んだ部品をレーザーマーカー・インクジェットプリンタを
使ってマーキングしたい。

シーケンサーを使ってマーカー・プリンタとXYステージを連動させるプログラムを組んでいますが、多品種少量生産のため部品の種類が変わると頻繁にプログラムを変更しなければならない。

改善のご提案

マーカー・プリンタとXYステージを連動させて、各部品にマーキングします。

マーカー・プリンタのマーキング開始出力、終了入力のI/O制御プログラムも簡単に作れます。

検査対象が変わっても、マップ形状を変更するだけで、すぐに対応できます。

改善事例2

ディスペンサー

不良部品にディスペンサーでNGマーキングをしたい。

前工程の検査で良否判定したパレットに並んだ部品のうち、不良部品だけにディスペンサーでNGマークを付けたい。

改善のご提案

ディスペンサーとXYステージを連動させて、マップで指定した箇所のみ移動させNGマーキングします。

測定器の測定開始出力、終了入力のI/O制御プログラムも簡単に作れます。

測定対象、測定ピッチが変わっても、マップ形状を変更するだけで、すぐに対応できます。

各種測定器とXYステージ連動による自動測定

改善事例

測定器(分光器、膜厚計、接触角計、レーザー変位計など)

各種測定器とXYステージを連動させてワーク全体の測定を行いたい。

分光器、膜厚計、接触角計、レーザー変位計などの測定器を使って、ワーク全体のデータを取得したい。

改善のご提案

各種測定器とXYステージを連動させて、ワーク全体の測定を自動で行います。

測定器の測定開始出力、終了入力のI/O制御プログラムも簡単に作れます。

測定対象、測定ピッチが変わっても、マップ形状を変更するだけで、すぐに対応できます。

(測定データの取得・保存機能は測定器側に必要になります。)

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